光学窗口片检测的基本原理

光学窗口片中的各种杂质，在光学特性上必然与光学窗口片本身有差异。

当光线入射光学窗口片后，各种杂质会在反射、折射等方面表现出与周围光学窗口片不同的异样。

例如，当均匀光垂直入射光学窗口片时，如光学窗口片中没有杂质，出射的方向不会发生改变，所探测到的光也是均匀的；

当光学窗口片中含有杂质时，出射的光线就会发生变化，所探测到的图像也要随之改变。

由于杂质的存在，在其周围就发生了应力集中及变形，在图像中也容易观察。

若遇到光透射型缺陷（如裂纹、气泡等），光线在该缺陷位置会发生折射，光的强度比周围的要大，因而相机靶面上探测到的光也相应增强；

若遇到光吸收型（如砂粒等）杂质，则该缺陷位置的光会变弱，相机靶面上探测到的光比周围的光要弱。

分析相机采集到的图像信号的强弱变化、图像特征，便能获取相应的缺陷信息。